Diagrama ocular de datos en serie de alta velocidad, análisis de fluctuación y ruido

Análisis TecnologicoAnálisis Tecnologico
PCIe, USB, DisplayPortPCIe, USB, DisplayPort
ToolboxToolbox
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ConfianzaConfianza
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RecursosRecursos
Diagrama de ojo de análisis de datos en serie de SDA Expert, histograma de jitter, espectro de jitter y desglose de jitter en jitter total, jitter aleatorio y determinista

Experiencia simplificada en datos en serie

El software de análisis de datos en serie SDA Expert es el primer paquete de análisis de fluctuación y diagrama de ojo con experiencia en tecnología incorporada. Simplifica la configuración y amplía las capacidades de depuración con análisis de tecnología personalizado para PCI Express, USB, DisplayPort y más.

  • Análisis de tecnología a medida para PCI Express®, USB, Thunderbolt™, DisplayPort®, y más
  • La caja de herramientas de análisis de datos en serie más completa
  • Máxima confianza para mediciones complejas

Experiencia simplificada en datos en serie

Primer software de datos en serie con experiencia incorporada. Simplifica la configuración y amplía las capacidades de depuración con un nuevo marco tecnológico.

Software de análisis de datos en serie SDA Expert que compara dos diagramas de ojo de USB4  y  USB4 mediciones de fluctuación específicas en una interfaz USB-Type-C

Análisis de tecnología personalizado para PCI Express, USB, DisplayPort y más

  • Se incorpora experiencia en medición de tecnología específica
  • Transición fluida del cumplimiento a la depuración
  • La selección intuitiva de mediciones ahorra tiempo y evita errores
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Análisis de datos en serie SDA Expert, diagrama de ojo NRZ, histograma de jitter, seguimiento de jitter, FFT de jitter y mediciones aleatorias, deterministas y de jitter total

La caja de herramientas de análisis de datos en serie más completa

  • El conjunto de herramientas de cuarta generación cubre todas las necesidades de señales NRZ y PAM
  • Lo integra todo: fluctuación, ruido, diafonía, ecualización y respuesta de pulso
  • Soporte exclusivo de múltiples vistas con modos de referencia y comparación
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Análisis de datos en serie de SDA Expert que compara diagramas de cuatro ojos y escenarios de fluctuación con la desintegración de un canal y el uso de ecualizadores CTLE, DFE y FFE

Máxima confianza para mediciones complejas

  • La configuración con un solo botón ahorra tiempo de configuración y evita errores
  • Las selecciones de tecnología simplifican la configuración de mediciones complejas
  • Documente rápidamente los resultados y guarde datos con el generador de informes integrado
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Análisis de tecnología personalizado para PCI Express, USB, DisplayPort y más

El marco tecnológico SDA Expert proporciona todas las herramientas que necesita específicas para cada tecnología para una depuración fácil y rápida fuera de las pruebas de cumplimiento.

Software de análisis de datos en serie SDA Expert que muestra un ejemplo de marco tecnológico para PCIe Gen6
Las funciones integradas de depuración y medición dedicadas de SDA Expert se muestran para USB en el menú de selección de tecnología
SDA Expert ha incorporado una selección de puntos de prueba para estándares como USB3.2, USB4, Thunderbolt, PCIe y DisplayPort para un fácil análisis de enlaces
El software de análisis de datos en serie SDA Expert muestra un diagrama en ojo de la señal PCIe Gen6 junto con el parámetro de medición específico de PCIe Gen6 y la respuesta al paso

Acelere la depuración con el marco tecnológico SDA Expert de Teledyne LeCroy. Obtenga todo el análisis de depuración que necesita y que normalmente solo está disponible en paquetes de cumplimiento.

  • Diseño basado en tecnología de expertos en tecnología.
  • Fácil de configurar y listo para usar
  • Optimizado para depurar pruebas de cumplimiento externas

Simplemente seleccione la tecnología que se está probando y se le presentarán mediciones específicas de la tecnología, etiquetadas como se describen en el documento estándar de tecnología y que cumplen con los requisitos específicos de la norma.

  • El marco tecnológico predefinido con opciones adicionales simplifica la configuración de medición
  • Benefíciese de la experiencia incorporada
  • Obtenga todas las herramientas que necesita para su aplicación

Con el análisis de datos en serie SDA Expert se proporcionan todas las herramientas necesarias para medir los puntos de prueba definidos en las normas, incluso si estos puntos de prueba y/o el canal no están directamente presentes físicamente.

  • Visualización gráfica dinámica de la configuración del canal y del punto de prueba.
  • Los puntos de prueba predefinidos simplifican la configuración y evitan errores
  • Incrustación/desincrustación y ecualización integradas

Muchas normas tienen parámetros de medición y requisitos de análisis específicos. Con SDA Expert Serial Data Analysis, los obtiene todos en una sola herramienta optimizada para la depuración.

  • Cumplir con las especificaciones de las normas.
  • Optimizado para la depuración
  • La selección de medidas sencilla ahorra tiempo y evita errores

Marco tecnológico para USB 3.2, USB4, ThunderboltPCI Express, DisplayPort, Ethernet 50G/100G

Teledyne LeCroy ha integrado sus décadas de experiencia con estándares de la industria en el software de análisis de datos en serie SDA Expert. Llévelo al siguiente nivel con el nuevo marco tecnológico.

Software de análisis de datos en serie SDA Expert que muestra USB3.2. diagrama de ojo, fluctuación y parámetro del diagrama de ojo medidos en una interfaz tipo USB-C
Software de análisis de datos en serie SDA Expert que muestra USB4. diagrama de ojo, fluctuación y parámetro del diagrama de ojo medidos en una interfaz tipo USB-C
Software de análisis de datos en serie SDA Expert que muestra DisplayPort. diagrama de ojo, fluctuación y parámetro del diagrama de ojo medidos en una interfaz tipo USB-C
Histograma de transición SDA Expert PCIe 6.0 que incluye desglose de fluctuaciones como Rj, udjdd, utj, dj y tj
Diagrama de ojo PAM50 de Ethernet 4G con gráfico de interferencia entre símbolos (ISI)

Se puede acceder a las mediciones específicas de la tecnología USB-C definidas en DisplayPort CTS (especificaciones de prueba de cumplimiento) con solo tocar un botón en el software SDA Expert.

  • Configuración de puntos de prueba fácilmente configurables
  • Diagrama de ojo completo, fluctuación y otras mediciones PHY de USB-C
  • Análisis de ecualización simple y potente
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Medidas específicas de la tecnología USB-C definidas en el USB4 y Thunderbolt Se puede acceder a CTS (especificaciones de prueba de cumplimiento) con solo tocar un botón en el software SDA Expert.

  • Configuración de puntos de prueba fácilmente configurables
  • Diagrama de ojo completo, fluctuación y otras mediciones PHY de USB-C
  • Análisis de ecualización simple y potente
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Se puede acceder a las mediciones específicas de la tecnología USB-C definidas en DisplayPort CTS (especificaciones de prueba de cumplimiento) con solo tocar un botón en el software SDA Expert.

  • Configuración de puntos de prueba fácilmente configurables
  • Diagrama de ojo completo, fluctuación y otras mediciones PHY de USB-C
  • Análisis de ecualización simple y potente
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PCI Express 6.0 introduce metodologías de medición de jitter específicas de PAM4, lo que convierte a SDA Expert en el conjunto de herramientas ideal para caracterizar transmisores PCIe.

  • Divida la composición de la medición de jitter en 48 transiciones en el patrón de medición de jitter de 52 UI, 12 transiciones de nivel de voltaje o un único conjunto agregado de mediciones de jitter
  • Histograma de transición para cada una de las 48 transiciones en el patrón de medición de fluctuación de 52 UI
  • Cada uno de los 52 resultados de la tabla de mediciones está bloqueado en su respectivo histograma de transición.
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Realizar la caracterización básica de señales eléctricas Ethernet de 50G/100G

  • Diagramas y medidas de los ojos, como la altura y el ancho de los ojos.
  • Mediciones de ecualización del transmisor (TxEQ)
  • Mediciones de jitter con recuperación de datos de reloj
  • Mediciones de la relación señal-ruido y distorsión (SNDR) y de la relación de desajuste de nivel (RLM)
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La caja de herramientas de análisis de datos en serie más completa

Las opciones de análisis de datos en serie de SDA Expert proporcionan todas las herramientas que necesita para cualquier medición de diagrama de ojo, fluctuación o ruido de datos en serie NRZ o PAM de alta velocidad.

Diagrama de ojo NRZ de SDA Expert, histograma de jitter, pista de jitter, FFT de jitter y jitter aleatorio y determinista junto con parámetros del diagrama de ojo
SDA Expert muestra un diagrama de ojo de la señal PAM4 y mide SNDR, RLM junto con los parámetros de fluctuación y diagrama de ojo
SDA Expert muestra el ruido como función de seguimiento, histograma y en el dominio de la frecuencia y mide, extrapola y descompone el ruido vertical.
Desincrustación de accesorios y cables de prueba de TP1 a TP2 o emulación del canal en TP3 usando parámetros S y SDA Expert
SDA Expert compara cuatro escenarios con diagrama de ojo y jitter, incrustando y desincrustando un canal y usando ecualizadores CTLE, DFE y FFE

Las opciones del software SDA Expert Serial Data proporcionan las herramientas más completas de análisis, diagrama de ojo y descomposición de fluctuación NRZ con herramientas avanzadas de integridad de señal para emulación, desincrustación y simulación de ecualización.

  • El conjunto de herramientas de cuarta generación cubre todas las necesidades de señales NRZ
  • Lo integra todo: fluctuación, ruido, diafonía, ecualización y respuesta de pulso
  • Análisis y descomposición integral de la fluctuación

La opción de software SDA Expert Serial Data Analysis proporciona diagramas de ojo integrales PAM3 y PAM4, mediciones de fluctuación y ruido para el análisis de degradaciones aleatorias, deterministas y periódicas para cada apertura de señales PAM multinivel.

  • El análisis SNDR y RLM más completo
  • Potentes herramientas de visualización para identificar componentes inesperados de ruido y distorsión.
  • Capacidad integral de ruptura de fluctuaciones y ruido

Con el software SDA Expert Serial Data Analysis, obtenga un conjunto completo de herramientas de medición de ruido vertical y análisis de diafonía para un análisis completo de agresor/víctima.

  • Seguimiento de ruido, histograma y espectro, que proporcionan información sobre el ruido vertical.
  • Modo de comparación LaneScape para generar ojos de diafonía en múltiples carriles
  • El innovador gráfico del contorno de ojos de diafonía muestra los efectos del ruido excesivo

Con el software SDA Expert Serial Data Analysis, caracterice rápidamente toda la ruta de la señal desde el transmisor al receptor, capture formas de onda de alta fidelidad en un punto de prueba conveniente y luego analice fácilmente la señal en cualquier punto de interés.

  • Accesorios de desembocadura y cables de prueba
  • Emule las pérdidas de canales del mundo real
  • Emular la ecualización del transmisor y del receptor.
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Las múltiples vistas y el análisis de referencia del software SDA Expert Serial Data Analysis identifican rápidamente las diferencias y aceleran la depuración.

  • Utilice el carril de referencia para pruebas de escenarios múltiples
  • Mida varios carriles simultáneamente
  • Análisis multipunto y multiconfiguración

Máxima confianza para mediciones complejas

El análisis de datos en serie SDA Expert proporciona la mayor confianza y, al mismo tiempo, está optimizado para brindar simplicidad y facilidad de uso.

Configure el software SDA Expert Serial Data Analysis con desintegración y ecualización usando un botón en lugar de usar un asistente complejo
Funciones de depuración y medición dedicadas integradas de SDA Expert que pueden abordarse fácilmente mediante el menú de selección de tecnología
El software SDA Expert Serial Data Analysis tiene una función de generación de informes integrada para guardar la configuración, los datos sin procesar y generar informes para todo tipo de análisis de datos en serie y fluctuaciones en señales NRZ y PAM con solo tocar un botón.
Interfaz gráfica de usuario optimizada del software SDA Expert Serial Data Analysis

Confíe en la experiencia del software SDA Expert Serial Data Analysis y utilice la operación con un solo botón en lugar de luchar con asistentes.

  • Configuración con un solo botón en lugar de asistentes complejos
  • Optimizado para ahorrar tiempo de configuración
  • Muestre las vistas de fluctuación y los diagramas de ojo más relevantes.

Benefíciese del conocimiento experto del software de análisis de datos en serie SDA Expert y comience su análisis con solo unos pocos clics.

  • El marco de tecnologías predefinidas simplifica la configuración
  • Benefíciese de la experiencia incorporada
  • Obtenga todas las herramientas que necesita para su aplicación

Con la función de informe del software SDA Expert Serial Data Analysis, guarde sus datos para análisis futuros y genere informes completos con solo tocar un botón.

  • Guarde datos, configure y cree un informe al mismo tiempo
  • Analizó los datos almacenados más adelante en el alcance o fuera de línea usando MAUI Studio
  • Cree un informe que contenga todas las configuraciones relevantes, así como una captura de pantalla informativa.

Realice un seguimiento de la configuración y ahorre tiempo con la interfaz gráfica de usuario (UI) optimizada y optimizada con iconos que se explican por sí mismos. Obtenga información útil sobre configuraciones faltantes o incorrectas a través de la información de estado.

  • Los iconos facilitan la búsqueda de la función necesaria
  • La interfaz de usuario gráfica optimizada ayuda con el orden de las configuraciones
  • Las barras de estado proporcionan información sobre configuraciones faltantes o incorrectas

Comparación del diagrama ocular de datos en serie y del análisis de fluctuación: Teledyne LeCroy, Keysight, Tektronix

Teledyne LeCroy SDA Expert tiene capacidades tecnológicas específicas únicas y es intuitivo y fácil de usar. Compare con las opciones de software de análisis de fluctuación y diagrama de ojo de datos en serie de Keysight y Tektronix que requieren la compra de múltiples opciones para obtener la misma capacidad que SDAX-COMPLETE.

NRZ

Diagrama de ojos y medida de ojos
Medida de Jitter, Pista, Histograma, Espectro
Respuesta de pulso y Tx EQ

PAMn

Diagrama de ojos y medida de ojos
Medida de fluctuación, seguimiento, histograma
Respuesta de pulso, Tx EQ y SNDR

Ruido/diafonía

Medida de ruido, pista, histograma, espectro
Superposición de diagrama de ojo de diafonía

Incrustar/desincrustar

Incrustar/desincrustar
Ecualizador

Ver

Multi-view
Vista de referencia

Productividad

Interfaz gráfica del usuario
Generador de Informes
Configuración automática del punto de prueba

Soluciones tecnológicas específicas

PCIe 2.0
PCIe 3.0
PCIe 4.0
PCIe 5.0
PCIe 6.0
USB 3.2
USB y Thunderbolt
DisplayPort 1.4
DisplayPort 2.0
Teledyne LeCroy
SDAX-COMPLETO
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE6)
(SDAX-USB32)
(SDAX-USB4-TBT)
(SDAX-DP)
(SDAX-DP)
Keysight
Se requieren múltiples opciones
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Tektronix
Se requieren múltiples opciones
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(PAMPCIE6)
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Recursos

Nombre del documento Tipo de documento  
Hoja de datos del experto SDA

Hoja de Datos

Descargar PDF
Manual de instrucciones del software experto SDA Descargar PDF

Manual

Descargar PDF
Configuración del operador SSCTrack para la demodulación de reloj de espectro ensanchado de datos seriales

Esta nota de aplicación describe cómo configurar los ajustes del operador matemático SSCTrack para realizar la demodulación de reloj de espectro amplio de formas de onda de datos en serie.

Nota de la aplicación

Descargar PDF

Serie de seminarios web de la Universidad Jitter

¿Confundido acerca de la inquietud? ¿La explicación que alguien dio sobre el nerviosismo generó más preguntas que respuestas? Si es así, únase a Teledyne LeCroy mientras le enseñamos todo sobre el jitter: qué es el jitter, diferentes categorías, instrumentos utilizados, mediciones y vistas, deconvolución y extrapolación, y más.

Regístrate para todos
Parte 1: Introducción al Jitter

En esta sesión, proporcionamos definiciones y categorías básicas de jitter, describimos los tipos de instrumentos utilizados histórica y actualmente para medir el jitter, y las fortalezas y debilidades de los instrumentos de medición del jitter.

Parte 2: Aprendiendo sobre Jitter on the Edge

En esta sesión, ilustramos ejemplos de medición de fluctuación mediante adquisiciones compuestas por uno o dos bordes. Se describen diversas técnicas de medición con sus antecedentes históricos. También se analiza el impacto del instrumento en la precisión de la medición de la fluctuación.

Parte 3: Considerando el Jitter a largo plazo

En esta sesión, aprovechamos el uso de osciloscopios digitales modernos para realizar más mediciones de fluctuación de fase de forma más rápida y precisa. También calcularemos estadísticas, veremos histogramas en conjuntos de datos y veremos cómo cambia el jitter con el tiempo o la frecuencia para comprender mejor las patologías subyacentes del jitter.

Parte 4: Ejemplos prácticos de medición y depuración de fluctuaciones

En esta sesión, presentamos el análisis espectral de la fluctuación como herramienta de depuración y brindamos otros ejemplos prácticos del uso de herramientas de análisis estadístico y de dominio de tiempo en el osciloscopio para descubrir la causa raíz de los problemas de fluctuación.

Parte 5: Fundamentos de las mediciones de fluctuación de datos en serie

En esta sesión, proporcionamos definiciones y categorías básicas de jitter, describimos los tipos de instrumentos utilizados histórica y actualmente para medir el jitter, y las fortalezas y debilidades de los instrumentos de medición del jitter.

Parte 6: Separación de fluctuación de datos en serie, extrapolación y vistas de fluctuación

En esta sesión, describimos cuál es la fluctuación total a una determinada tasa de error de bits (Tj@BER) y cómo se deriva de las mediciones de error de intervalo de tiempo (TIE) utilizando modelos de extrapolación. Se explica la separación entre fluctuación aleatoria (Rj) y determinista (Dj), con una explicación adicional de la separación de Dj en fluctuación dependiente de datos (DDj), distorsión del ciclo de trabajo (DCD), interferencia entre símbolos (ISI), fluctuación no correlacionada limitada (BUj) y Jitter periódico (Pj), con ejemplos proporcionados.

Parte 7 – Curso avanzado sobre mediciones de fluctuación de datos en serie

En esta sesión, profundizamos en las diversas vistas de jitter medidas y extrapoladas, y explicamos vistas estadísticas y variables en el tiempo de jitter en márgenes de enlaces de datos en serie como se ven con un diagrama de ojo.

Cómo desintegrar y emular enlaces de datos en serie mediante osciloscopios

Únase a Teledyne LeCroy para conocer las diversas técnicas de desintegración e incorporación/emulación de osciloscopios para enlaces de datos en serie de alta velocidad, interconexiones y canales y sondas de osciloscopio. Analizaremos los diversos tipos de herramientas comúnmente disponibles en los osciloscopios de alto ancho de banda, como la desincrustación y la emulación, utilizando archivos de medición de parámetros s o modelos de circuitos.

Cómo desincrustar elementos de interconexión tanto en el dominio de la frecuencia como en el del tiempo

Únase a Teledyne LeCroy mientras describimos y demostramos las mejores prácticas para desintegrar dispositivos de prueba, cables y sondas del enlace de datos en serie y otras mediciones de integridad de la señal. Este es un proceso de importancia crítica para garantizar que las mediciones de integridad de la señal para el DUT no estén contaminadas por los elementos de interconexión.

Integridad de la señal en datos seriales de alta velocidad, análisis de fluctuación y desintegración de sondas

En este seminario web, explicaremos cómo depurar la integridad de la señal de datos en serie de alta velocidad, la ecualización, las mediciones de fluctuación, las interconexiones y las sondas de incrustación y desincrustación.

Depuración y análisis de datos en serie de alta velocidad

En este seminario explicaremos cómo depurar datos seriales de alta velocidad, integridad de señal, ecualización, mediciones de Jitter, interconexiones y sondas de incrustación y desincrustación.

Cómo acelerar y mejorar la prueba y depuración del transmisor/receptor de datos en serie de 16+ Gb/s

Este seminario web proporcionará una descripción general de una prueba típica de transmisor de datos en serie de alta velocidad utilizando USB4 como ejemplo. Sintetizaremos una señal de datos en serie de alta velocidad, usaremos un osciloscopio en tiempo real para analizar la señal en un receptor virtual y compararemos la señal recibida virtualmente con una señal en vivo. Revisaremos el análisis del margen de integridad de la señal y las mediciones de jitter, diagrama de ojo, contorno IsoBER y diafonía.

Seminario web Fundamentos de la caracterización de interconexiones de datos en serie de alta velocidad

Únase a Teledyne LeCroy para obtener más información sobre el impacto de las interconexiones de datos en serie de alta velocidad en el diseño de su circuito. Analizaremos los parámetros S y los perfiles de impedancia y cómo interpretarlos, y luego usaremos archivos de parámetros S para realizar diagramas de ojo y mediciones de fluctuación en una señal diferencial que pasa a través de un canal de muestra.

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