Diagrama ocular de datos en serie de alta velocidad, análisis de fluctuación y ruido

Análisis TecnologicoAnálisis de tecnología
PCIe, USB, DisplayPortPCIe, USB, DisplayPort
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RecursosRecursos
Diagrama de ojo de análisis de datos en serie de SDA Expert, histograma de jitter, espectro de jitter y desglose de jitter en jitter total, jitter aleatorio y determinista

Experiencia simplificada en datos en serie

El software de análisis de datos en serie SDA Expert es el primer paquete de análisis de diagramas de ojo y fluctuación con conocimientos técnicos integrados. Simplifica la configuración y amplía las capacidades de depuración con análisis tecnológicos personalizados para PCI Express, USB, DisplayPort y más.

  • Análisis de tecnología a medida para PCI Express®, USB, Thunderbolt™, DisplayPort®, y más
  • La caja de herramientas de análisis de datos en serie más completa
  • Máxima confianza para mediciones complejas

Experiencia simplificada en datos en serie

Primer software de datos serie con funciones avanzadas integradas. Simplifica la configuración y amplía las capacidades de depuración con un nuevo marco tecnológico.

Software de análisis de datos en serie SDA Expert que compara dos diagramas de ojo de USB4   USB4 mediciones de fluctuación específicas en una interfaz USB-Type-C

Análisis tecnológico personalizado para PCI Express, USB, DisplayPort y más.

  • Se incorpora experiencia en medición de tecnología específica
  • Transición fluida del cumplimiento a la depuración
  • La selección intuitiva de mediciones ahorra tiempo y evita errores
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Análisis de datos en serie SDA Expert, diagrama de ojo NRZ, histograma de jitter, seguimiento de jitter, FFT de jitter y mediciones aleatorias, deterministas y de jitter total

La caja de herramientas de análisis de datos en serie más completa

  • El conjunto de herramientas de cuarta generación cubre todas las necesidades para señales NRZ y PAM.
  • Integra todo: fluctuación, ruido, diafonía, ecualización y respuesta de pulsos.
  • Compatibilidad exclusiva con múltiples vistas y modos de referencia y comparación.
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Análisis de datos en serie de SDA Expert que compara diagramas de cuatro ojos y escenarios de fluctuación con la desintegración de un canal y el uso de ecualizadores CTLE, DFE y FFE

Máxima confianza para mediciones complejas

  • La configuración con un solo botón ahorra tiempo de configuración y evita errores
  • La selección de tecnologías simplifica la configuración de mediciones complejas.
  • Documenta rápidamente los resultados y guarda los datos con el generador de informes integrado.
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Análisis tecnológico personalizado para PCI Express, USB, DisplayPort y más.

El marco tecnológico SDA Expert proporciona todas las herramientas necesarias, específicas para cada tecnología, para una depuración fácil y rápida fuera de las pruebas de cumplimiento.

Software de análisis de datos en serie SDA Expert que muestra un ejemplo de marco tecnológico para PCIe Gen6
Las funciones integradas de depuración y medición dedicadas de SDA Expert se muestran para USB en el menú de selección de tecnología
SDA Expert ha incorporado una selección de puntos de prueba para estándares como USB3.2, USB4, Thunderbolt, PCIe y DisplayPort para un fácil análisis de enlaces
El software de análisis de datos en serie SDA Expert muestra un diagrama en ojo de la señal PCIe Gen6 junto con el parámetro de medición específico de PCIe Gen6 y la respuesta al paso

Agiliza la depuración con la plataforma tecnológica SDA Expert de Teledyne LeCroy. Obtén todo el análisis de depuración que necesitas, que normalmente solo está disponible en paquetes de cumplimiento normativo.

  • Diseño basado en tecnología de expertos en tecnología.
  • Fácil de configurar y listo para usar
  • Optimizado para depurar pruebas de cumplimiento externas

Simplemente seleccione la tecnología que se está probando y se le presentarán mediciones específicas de dicha tecnología, etiquetadas tal como se describen en el documento de la norma tecnológica y que cumplen con los requisitos específicos de la norma.

  • Un marco tecnológico predefinido con opciones adicionales simplifica la configuración de la medición.
  • Benefíciese de la experiencia incorporada
  • Obtenga todas las herramientas que necesita para su aplicación

Con SDA Expert, el análisis de datos en serie proporciona todas las herramientas necesarias para medir los puntos de prueba definidos en las normas, incluso si estos puntos de prueba y/o el canal no están presentes físicamente de forma directa.

  • Visualización gráfica dinámica de la configuración del canal y del punto de prueba.
  • Los puntos de prueba predefinidos simplifican la configuración y evitan errores
  • Incrustación/desincrustación y ecualización integradas

Muchos estándares tienen parámetros de medición y requisitos de análisis específicos. Con SDA Expert Serial Data Analysis, los obtienes todos en una sola herramienta optimizada para la depuración.

  • Cumplir con las especificaciones de las normas.
  • Optimizado para la depuración
  • La selección de medidas sencilla ahorra tiempo y evita errores

Marco tecnológico para USB 3.2, USB4, ThunderboltPCI Express, DisplayPort, Ethernet de 50G/100G

Teledyne LeCroy ha integrado sus décadas de experiencia con los estándares de la industria en el software de análisis de datos en serie SDA Expert. Lleve su análisis al siguiente nivel con el nuevo marco tecnológico.

Software de análisis de datos en serie SDA Expert que muestra USB3.2. diagrama de ojo, fluctuación y parámetro del diagrama de ojo medidos en una interfaz tipo USB-C
Software de análisis de datos en serie SDA Expert que muestra USB4. diagrama de ojo, fluctuación y parámetro del diagrama de ojo medidos en una interfaz tipo USB-C
Software de análisis de datos en serie SDA Expert que muestra DisplayPort. diagrama de ojo, fluctuación y parámetro del diagrama de ojo medidos en una interfaz tipo USB-C
Histograma de transición SDA Expert PCIe 6.0 que incluye desglose de fluctuaciones como Rj, udjdd, utj, dj y tj
Diagrama de ojo PAM50 de Ethernet 4G con gráfico de interferencia entre símbolos (ISI)

Las mediciones específicas de la tecnología USB-C definidas en las especificaciones de prueba de conformidad (CTS) de DisplayPort son accesibles con solo pulsar un botón en el software SDA Expert.

  • Configuración de puntos de prueba fácilmente configurables
  • Diagrama de ojo completo, fluctuación y otras mediciones PHY de USB-C
  • Análisis de ecualización simple y potente
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Medidas específicas de la tecnología USB-C definidas en el USB4 Thunderbolt Las especificaciones de las pruebas de conformidad (CTS) son accesibles con solo pulsar un botón en el software SDA Expert.

  • Configuración de puntos de prueba fácilmente configurables
  • Diagrama de ojo completo, fluctuación y otras mediciones PHY de USB-C
  • Análisis de ecualización simple y potente
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Las mediciones específicas de la tecnología USB-C definidas en las especificaciones de prueba de conformidad (CTS) de DisplayPort son accesibles con solo pulsar un botón en el software SDA Expert.

  • Configuración de puntos de prueba fácilmente configurables
  • Diagrama de ojo completo, fluctuación y otras mediciones PHY de USB-C
  • Análisis de ecualización simple y potente
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PCI Express 6.0 introduce metodologías de medición de fluctuación específicas para PAM4, lo que convierte a SDA Expert en el conjunto de herramientas ideal para caracterizar los transmisores PCIe.

  • Desglosar la composición de la medición de jitter en las 48 transiciones del patrón de medición de jitter de 52 UI, 12 transiciones de nivel de voltaje o un único conjunto agregado de mediciones de jitter.
  • Histograma de transición para cada una de las 48 transiciones en el patrón de medición de fluctuación de 52 UI.
  • Cada uno de los 52 resultados de la tabla de mediciones está vinculado a su histograma de transición correspondiente.
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Realizar la caracterización básica de señales eléctricas Ethernet de 50G/100G.

  • Diagramas y medidas de los ojos, como la altura y el ancho de los ojos.
  • Mediciones de ecualización del transmisor (TxEQ)
  • Mediciones de jitter con recuperación de datos de reloj
  • Mediciones de relación señal-ruido y distorsión (SNDR) y relación de desajuste de nivel (RLM).
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La caja de herramientas de análisis de datos en serie más completa

Las opciones de análisis de datos en serie de SDA Expert proporcionan todas las herramientas que necesita para cualquier medición de datos en serie de alta velocidad, ya sea mediante diagramas de ojo NRZ o PAM, fluctuaciones o ruido.

Diagrama de ojo NRZ de SDA Expert, histograma de jitter, pista de jitter, FFT de jitter y jitter aleatorio y determinista junto con parámetros del diagrama de ojo
SDA Expert muestra un diagrama de ojo de la señal PAM4 y mide SNDR, RLM junto con los parámetros de fluctuación y diagrama de ojo
Pantalla de prueba de máscara SDA Expert
SDA Expert muestra el ruido como función de seguimiento, histograma y en el dominio de la frecuencia y mide, extrapola y descompone el ruido vertical.
Desincrustación de accesorios y cables de prueba de TP1 a TP2 o emulación del canal en TP3 usando parámetros S y SDA Expert
SDA Expert compara cuatro escenarios con diagrama de ojo y jitter, incrustando y desincrustando un canal y usando ecualizadores CTLE, DFE y FFE

Las opciones de software SDA Expert Serial Data proporcionan las herramientas más completas de descomposición de fluctuación NRZ, diagrama de ojo y análisis, junto con herramientas avanzadas de integridad de señal para emulación, desincrustación y simulación de ecualización.

  • El conjunto de herramientas de cuarta generación cubre todas las necesidades de señales NRZ
  • Integra todo: fluctuación, ruido, diafonía, ecualización y respuesta de pulsos.
  • Análisis y descomposición integral de la fluctuación

La opción de software SDA Expert Serial Data Analysis proporciona mediciones completas del diagrama de ojo PAM3 y PAM4, así como mediciones de fluctuación y ruido, para el análisis de las deficiencias aleatorias, deterministas y periódicas para cada apertura de ojo de las señales PAM multinivel.

  • El análisis SNDR y RLM más completo
  • Potentes herramientas de visualización para identificar componentes de ruido y distorsión inesperados.
  • Capacidad integral de ruptura de fluctuaciones y ruido

La prueba de máscara es una de las herramientas más fáciles de usar para analizar la integridad de la señal NRZ. SDA Expert cuenta con una amplia base de datos integrada de máscaras y configuraciones PLL correspondientes, con la flexibilidad de añadir definiciones propias.

  • Más de 100 estándares predefinidos con máscaras y configuraciones PLL.
  • Fácil mejora para personalizar máscaras o añadir nuevos estándares.
  • Configuración flexible del PLL como frecuencia, definición de JTF u OJTF

Con el software SDA Expert Serial Data Analysis, obtenga un conjunto completo de herramientas de medición de ruido vertical y análisis de diafonía para un análisis completo de agresor/víctima.

  • Pista de ruido, histograma y espectro, que proporcionan información sobre el ruido vertical.
  • Modo de comparación LaneScape para generar ojos de diafonía en múltiples carriles
  • Un innovador diagrama de contorno de ojo de diafonía muestra los efectos del ruido excesivo.

Con el software de análisis de datos en serie SDA Expert, caracterice rápidamente toda la ruta de la señal desde el transmisor hasta el receptor, capture formas de onda de alta fidelidad en un punto de prueba conveniente y luego analice fácilmente la señal en cualquier punto de interés.

  • Accesorios de desembocadura y cables de prueba
  • Emule las pérdidas de canales del mundo real
  • Emular la ecualización del transmisor y del receptor.
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El software de análisis de datos en serie SDA Expert, con sus múltiples vistas y análisis de referencia, identifica rápidamente las diferencias y acelera la depuración.

  • Utilice el carril de referencia para pruebas de escenarios múltiples
  • Mida varios carriles simultáneamente
  • Análisis multipunto y multiconfiguración

Máxima confianza para mediciones complejas

El análisis de datos seriales SDA Expert proporciona la máxima fiabilidad, a la vez que está optimizado para ofrecer simplicidad y facilidad de uso.

Configure el software SDA Expert Serial Data Analysis con desintegración y ecualización usando un botón en lugar de usar un asistente complejo
Funciones de depuración y medición dedicadas integradas de SDA Expert que pueden abordarse fácilmente mediante el menú de selección de tecnología
El software SDA Expert Serial Data Analysis tiene una función de generación de informes integrada para guardar la configuración, los datos sin procesar y generar informes para todo tipo de análisis de datos en serie y fluctuaciones en señales NRZ y PAM con solo tocar un botón.
Interfaz gráfica de usuario optimizada del software SDA Expert Serial Data Analysis

Confíe en la experiencia del software de análisis de datos seriales SDA Expert y utilice la operación con un solo botón en lugar de lidiar con asistentes.

  • Configuración con un solo botón en lugar de asistentes complejos
  • Optimizado para ahorrar tiempo de configuración
  • Muestre las vistas de fluctuación y los diagramas de ojo más relevantes.

Benefíciese del conocimiento experto del software de análisis de datos seriales SDA Expert y comience su análisis con tan solo unos clics.

  • El marco de tecnologías predefinidas simplifica la configuración
  • Benefíciese de la experiencia incorporada
  • Obtenga todas las herramientas que necesita para su aplicación

Con la función de informes del software de análisis de datos seriales SDA Expert, guarde sus datos para análisis futuros y genere informes completos con solo pulsar un botón.

  • Guarde datos, configure y cree un informe al mismo tiempo
  • Analicé los datos almacenados más tarde, dentro del ámbito de aplicación o sin conexión, utilizando MAUI Studio.
  • Crea un informe que contenga todos los ajustes relevantes, así como una captura de pantalla informativa.

Mantén un control de la configuración y ahorra tiempo con la interfaz gráfica de usuario (UI) optimizada y simplificada, con iconos intuitivos. Obtén información útil sobre configuraciones faltantes o incorrectas a través del estado.

  • Los iconos facilitan la búsqueda de la función necesaria
  • La interfaz de usuario gráfica optimizada ayuda con el orden de las configuraciones
  • Las barras de estado proporcionan información sobre configuraciones faltantes o incorrectas

Comparación de diagramas de ojo y análisis de fluctuación de fase en datos seriales: Teledyne LeCroy, Keysight, Tektronix

Teledyne LeCroy SDA Expert cuenta con capacidades tecnológicas únicas y es intuitivo y fácil de usar. Compárelo con las opciones de software de análisis de diagramas de ojo y fluctuaciones de datos en serie de Keysight y Tektronix, que requieren la compra de múltiples opciones para obtener las mismas capacidades que SDAX-COMPLETE.

NRZ

Diagrama de ojos y medida de ojos
Medida de Jitter, Pista, Histograma, Espectro
Respuesta de pulso y Tx EQ

PAMn

Diagrama de ojos y medida de ojos
Medida de fluctuación, seguimiento, histograma
Respuesta de pulso, Tx EQ y SNDR

Ruido/diafonía

Medida de ruido, pista, histograma, espectro
Superposición de diagrama de ojo de diafonía

Incrustar/desincrustar

Incrustar/desincrustar
Ecualizador

Ver

Multi-view
Vista de referencia

Productividad

Interfaz gráfica del usuario
Generador de Informes
Configuración automática del punto de prueba

Soluciones tecnológicas específicas

PCIe 2.0
PCIe 3.0
PCIe 4.0
PCIe 5.0
PCIe 6.0
USB 3.2
USB y Thunderbolt
DisplayPort 1.4
DisplayPort 2.0
Teledyne LeCroy
SDAX-COMPLETO
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE6)
(SDAX-USB32)
(SDAX-USB4-TBT)
(SDAX-DP)
(SDAX-DP)
Keysight
Se requieren varias opciones.
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Tektronix
Se requieren varias opciones.
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(PAMPCIE6)
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Recursos

Nombre del documento Tipo de documento  
Hoja de datos del experto SDA

Hoja de Datos

Descargar PDF
Manual de instrucciones del software experto SDA Descargar PDF

Manual

Descargar PDF
Configuración del operador SSCTrack para la demodulación de reloj de espectro ensanchado de datos seriales

Esta nota de aplicación describe cómo configurar los ajustes del operador matemático SSCTrack para realizar la demodulación de reloj de espectro ensanchado de formas de onda de datos en serie.

Nota de la aplicación

Descargar PDF

Serie de seminarios web de la Universidad Jitter

¿Confundido con la fluctuación de fase (jitter)? ¿La explicación que te dieron sobre la fluctuación de fase generó más preguntas que respuestas? Si es así, únete a Teledyne LeCroy y descubre todo sobre la fluctuación de fase: qué es, sus diferentes categorías, los instrumentos que se utilizan, las mediciones y las distintas perspectivas, la deconvolución y la extrapolación, y mucho más.

Regístrese para todos
Parte 1 - Introducción al Jitter

En esta sesión, proporcionaremos definiciones y categorías básicas de fluctuación de fase (jitter), describiremos los tipos de instrumentos que se han utilizado históricamente y que se utilizan actualmente para medir la fluctuación de fase, así como las ventajas y desventajas de los instrumentos de medición de fluctuación de fase.

Parte 2: Aprendiendo sobre la fluctuación de la señal en el borde.

En esta sesión, ilustramos ejemplos de medición de fluctuación temporal (jitter) mediante adquisiciones compuestas por uno o dos flancos. Se describen diversas técnicas de medición y sus antecedentes históricos. También se analiza el impacto del instrumento en la precisión de la medición de la fluctuación temporal.

Parte 3 – Una perspectiva a largo plazo sobre la fluctuación

En esta sesión, aprovecharemos el uso de osciloscopios digitales modernos para realizar mediciones de fluctuación de fase (jitter) de forma más rápida y precisa. También calcularemos estadísticas, visualizaremos histogramas de conjuntos de datos y observaremos cómo varía la fluctuación de fase con el tiempo o la frecuencia para comprender mejor las patologías subyacentes.

Parte 4 – Ejemplos prácticos de depuración y medición de fluctuaciones (jitter)

En esta sesión, presentamos el análisis espectral de la fluctuación de fase como herramienta de depuración y proporcionamos otros ejemplos prácticos del uso de herramientas de análisis estadístico y en el dominio del tiempo en el osciloscopio para descubrir la causa raíz de los problemas de fluctuación de fase.

Parte 5 – Fundamentos de las mediciones de fluctuación de datos en serie

En esta sesión, proporcionaremos definiciones y categorías básicas de fluctuación de fase (jitter), describiremos los tipos de instrumentos que se han utilizado históricamente y que se utilizan actualmente para medir la fluctuación de fase, así como las ventajas y desventajas de los instrumentos de medición de fluctuación de fase.

Parte 6 – Separación, extrapolación y visualización de la fluctuación de datos en serie

En esta sesión, describimos qué es la fluctuación total a una tasa de error de bits determinada (Tj@BER) y cómo se deriva a partir de mediciones de error de intervalo de tiempo (TIE) mediante modelos de extrapolación. Se explica la separación entre fluctuación aleatoria (Rj) y determinista (Dj), con una explicación más detallada de la separación de Dj en fluctuación dependiente de datos (DDj), distorsión del ciclo de trabajo (DCD), interferencia entre símbolos (ISI), fluctuación no correlacionada limitada (BUj) y fluctuación periódica (Pj), con ejemplos incluidos.

Parte 7 – Curso avanzado sobre mediciones de fluctuación de datos en serie

En esta sesión, profundizamos en las diversas representaciones medidas y extrapoladas de la fluctuación temporal (jitter), y explicamos las representaciones estadísticas y variables en el tiempo de la fluctuación temporal en los márgenes de los enlaces de datos en serie, tal como se visualizan con un diagrama de ojo.

Cómo extraer y emular enlaces de datos serie mediante osciloscopios

Únase a Teledyne LeCroy para aprender sobre las diversas técnicas de desincrustación e incrustación/emulación de osciloscopios para enlaces de datos serie de alta velocidad, interconexiones, canales y sondas de osciloscopio. Analizaremos los distintos tipos de herramientas disponibles en osciloscopios de alto ancho de banda, como la desincrustación y la emulación, mediante archivos de medición de parámetros S o modelos de circuitos.

Cómo extraer elementos de interconexión tanto en el dominio de la frecuencia como en el del tiempo.

Únase a Teledyne LeCroy mientras describimos y demostramos las mejores prácticas para eliminar la interferencia de los dispositivos de prueba, cables y sondas en las mediciones de integridad de la señal de enlaces de datos en serie y otras mediciones. Este es un proceso de vital importancia para garantizar que las mediciones de integridad de la señal del dispositivo bajo prueba no se vean contaminadas por los elementos de interconexión.

Integridad de la señal en datos seriales de alta velocidad, análisis de fluctuación (jitter), desincrustación de sonda.

En este seminario web explicaremos cómo depurar la integridad de la señal de datos serie de alta velocidad, la ecualización, las mediciones de fluctuación (jitter), la inserción y extracción de interconexiones y sondas.

Depuración y análisis de datos serie de alta velocidad

En este seminario explicaremos cómo depurar la integridad de la señal de datos serie de alta velocidad, la ecualización, las mediciones de fluctuación (jitter), la inserción y extracción de interconexiones y sondas.

Cómo acelerar y mejorar las pruebas y la depuración de transmisores/receptores de datos serie de más de 16 Gb/s

Este seminario web proporcionará una descripción general de una prueba típica de transmisor de datos serie de alta velocidad utilizando USB4 Como ejemplo, sintetizaremos una señal de datos seriales de alta velocidad, utilizaremos un osciloscopio en tiempo real para analizar la señal en un receptor virtual y compararemos la señal recibida virtualmente con una señal real. Repasaremos el análisis del margen de integridad de la señal y la fluctuación (jitter), el diagrama de ojo, el contorno IsoBER y las mediciones de ojo de diafonía.

Seminario web sobre los fundamentos de la caracterización de interconexiones de datos en serie de alta velocidad.

Únase a Teledyne LeCroy para aprender más sobre el impacto de las interconexiones de datos en serie de alta velocidad en el diseño de circuitos. Analizaremos los parámetros S y los perfiles de impedancia, y cómo interpretarlos. Posteriormente, utilizaremos archivos de parámetros S para realizar diagramas de ojo y mediciones de fluctuación (jitter) en una señal diferencial que pasa a través de un canal de muestreo.

¿Necesita asistencia o información?

Por favor, rellene este formulario y háganos saber si desea Regístrese para recibir Actualizaciones, da Contactado por Ventas, o quisiera Solicitar una demostración