Analizador de red vectorial (VNA) + capacidades de reflectómetro en el dominio del tiempo (TDR)

WavePulser 40iX El analizador de interconexión de alta velocidad proporciona una visión de caracterización inigualable en los dominios de frecuencia y tiempo con una sola adquisición.

  • Mide parámetros S (como un VNA)
  • Mide el perfil de impedancia (como un TDR)
  • Desincrustación, simulación, emulación y cronometraje de resultados
  • No requiere calibración
  • Cuesta una fracción del precio de un VNA
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WavePulser 40iX analizador de interconexión de alta velocidad que realiza mediciones de parámetros s del analizador de red vectorial (VNA), como mediciones de pérdida de retorno y pérdida de inserción, en una placa de circuito

Perspectiva de caracterización inigualable

Gráfica representativa de parámetros S de modo mixto y pérdida de retorno e inserción

Mediciones de parámetros S

Obtenga una caracterización completa de la ruta de la señal en una sola adquisición:

  • Rango de frecuencia CC a 40 GHz
  • Parámetros S de modo único y modo mixto
  • Medir pérdida de retorno, pérdida de inserción
  • La calibración automática interna ahorra tiempo y problemas
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Gráfico representativo del perfil de impedancia generado con un reflectómetro en el dominio del tiempo (TDR) para medir la transmisión en el dominio del tiempo (TDT)

Mediciones del perfil de impedancia

Localice con precisión las deficiencias en el circuito:

  • Resolución espacial del perfil de impedancia < 1 mm
  • Perfiles de impedancia diferencial y de modo común
  • Capacidad TDR y TDT
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iconografía que describe la WavePulser 40iX Las capacidades del analizador de interconexión de alta velocidad para realizar la desincrustación utilizando parámetros S y medir la fluctuación y los diagramas de ojo

Desincrustación, simulación, emulación y más

WavePulser 40iX El software proporciona análisis y modelado sencillos de interconexiones y circuitos con su amplia caja de herramientas:

  • Desincrustación y control de tiempo
  • Diagrama de ojo con emulación ecualizada
  • Análisis avanzado de fluctuaciones
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Prueba tanto en dominios de frecuencia como de tiempo

WavePulser 40iX El analizador de interconexión de alta velocidad es la herramienta de medición única e ideal para los diseñadores de hardware de alta velocidad y los ingenieros de pruebas, con todas las funciones y capacidades de las que carecen los analizadores de redes vectoriales (VNA) y los reflectómetros en el dominio del tiempo (TDR). Realice una adquisición y luego mida en los dominios de frecuencia y tiempo.

Iconografía que describe cómo WavePulser 40iX puede medir tanto en el dominio del tiempo (perfiles de impedancia, como un reflectómetro en el dominio del tiempo) como en el dominio de la frecuencia (parámetros S, como un analizador de redes vectoriales) y realizar la desincrustación para el análisis de diagramas de ojos y fluctuaciones

Diseñado para análisis de interconexión de alta velocidad

WavePulser 40iX valida, depura y soluciona problemas de interconectividad en cables de datos en serie, canales, conectores, vías, backplanes, placas de circuito impreso y paquetes de chips y SoC. Es fácil de configurar y usar. Proporciona los mismos resultados que un analizador de red por una fracción del precio.

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Ver seminario web

Calibración automática interna

WavePulser 40iX Los estándares de calibración están integrados, por lo que la calibración siempre es automática, simple y rápida. Compare con un analizador de red vectorial que requiere la compra de estándares de calibración externos adicionales y requiere conexión manual para la calibración. El enfoque basado en TDR/TDT también es independiente de la configuración, lo que hace que la calibración sea menos frecuente.

Más información

Rango completo de CC a 40 GHz

WavePulser 40iX ofrece respuesta de paso de reflectómetro de dominio de tiempo (TDR) y respuestas de capa física dependientes del tiempo y/o emuladas sin necesidad de extrapolación a CC y bajas frecuencias, ideal para análisis de interconexión de datos en serie de alta velocidad.

Webinars realizados

¿Qué necesito y por qué: TDR, parámetros S o ambos?
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Clase magistral de parámetros S, parte 3: laboratorio práctico
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Clase magistral de parámetros S, parte 2: laboratorio práctico
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Clase magistral de parámetros S, parte 1: laboratorio práctico
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Más allá del TDR
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Cómo leer los parámetros S como un libro
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Interconexiones con pérdida y pérdida de inserción
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Parámetros S de modo mixto y respuestas TDR
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Principios de la desincrustación
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Uso de parámetros S como modelo de comportamiento en la simulación de sistemas
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Mediciones de parámetros S

WavePulser 40iX El analizador de interconexión de alta velocidad mide los parámetros S de modo único y mixto a partir de una adquisición. Cambie la configuración y vuelva a calcular los resultados sin tener que volver a adquirir nuevos datos.

Imagen de pantalla que muestra una adquisición única con todos los parámetros s de modo mixto, retorno y pérdidas de inserción para todos los puertos

Mediciones de parámetros S en modo mixto

Una adquisición muestra todos los resultados de la medición: retorno de modo mixto y pérdidas de inserción para todos los puertos; mediciones en modo diferencial y modo común; Respuesta de frecuencia de CC. Una interfaz de usuario gráfica tabular facilita la lectura de los resultados.

Configuración de análisis de red simple y flexible

Una configuración simple requiere que ingrese solo las frecuencias y la cantidad de puertos para una adquisición de un solo extremo. Elija un tiempo de prueba optimizado para precisión o velocidad o algo intermedio. Reconfigure los puertos en el software sin volver a conectarse al dispositivo bajo prueba. Reordene los parámetros S en el archivo Touchstone.

Mayor precisión con calibración interna

La calibración electrónica interna permite que las mediciones comiencen antes y se realicen con más confianza. Capacidades como la pasividad, la reciprocidad y el cumplimiento de la causalidad garantizan una mayor precisión en la medición de los parámetros S.

Mediciones del perfil de impedancia

WavePulser 40iX El analizador de interconexión de alta velocidad mide perfiles de impedancia con una resolución espacial < 1 mm.

Imagen de pantalla que muestra un perfil de impedancia (Z0 frente a longitud eléctrica) para una interconexión de datos en serie de alta velocidad

Vistas de perfil de impedancia múltiple

WavePulser 40iX Admite medidas de perfil de impedancia de modo diferencial y de modo mixto y puede mostrar varios modos simultáneamente. Vea también la respuesta escalonada, la respuesta de pulso y el coeficiente de reflexión.

Localice con precisión las deficiencias

Utilice perfiles de impedancia para detectar y localizar problemas comunes en las interconexiones de datos en serie de alta velocidad: conectores mal apretados; cables dañados; radios de curvatura de cable incorrectos; vías defectuosas en líneas de transmisión; otras irregularidades en la línea de transmisión.

Optimizar la eficiencia

Los perfiles de impedancia detectan y ubican las deficiencias en la configuración de medición, no solo en el dispositivo bajo prueba, lo que lo ayuda a trabajar de manera más eficiente. Comprenda cuándo es necesario repetir la calibración y cuándo no.

Desincrustación, simulación, emulación y análisis de fluctuaciones

WavePulser 40iX El analizador de interconexión de alta velocidad se puede comprar junto con SI Studio (WavePulser-40iX-BUNDLE), una caja de herramientas de análisis profundo diseñada para comprender las características de interconexión de datos en serie de alta velocidad. El análisis de señal NRZ se incluye de serie con la compra de WavePulser-40iX-PAQUETE. Se puede comprar WAVEPULSER-SISTUDIO-UPG-PAM para agregar la capacidad de análisis de señales PAM3 y PAM4 a SI Studio

Imagen de pantalla que muestra el control de tiempo, el pelado de impedancia y la desincrustación usando parámetros S para el análisis de diagrama de ojo y fluctuación de fase de una interconexión de datos en serie de alta velocidad

Control de tiempo y desembebido

Elimina los efectos de cables y conectores de los resultados. Establezca la puerta a través de la extensión del puerto o un algoritmo de pelado de impedancia y guarde los parámetros S con o sin la región de puerta. Desembebe canales de datos en serie usando parámetros S modelados o medidos.

Vistas de diagrama de ojo rápido

Importe o simule formas de onda y utilice parámetros S para modelar las degradaciones. Vea rápidamente el impacto de las deficiencias con un diagrama de ojo de datos en serie intuitivo. Vea los efectos de la desincrustación y la ecualización en el diagrama de ojo. Admite PLL, preénfasis, desacentuación, CTLE, FFE y DFE.

Análisis de fluctuación avanzado

Mida el jitter total (Tj), aleatorio (Rj) y determinista (Dj). De-convolucionar Dj en partes componentes. Vea el jitter en espectral, histograma, seguimiento de jitter, diagrama de ojo y otros gráficos.

Documentos técnicos

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