WavePulser 40iX Analizador de interconexión de alta velocidad

WavePulser 40iX valida, depura y soluciona problemas de interconectividad en cables de datos en serie, canales, conectores, vías, backplanes, placas de circuito impreso y paquetes de chips y SoC. Es fácil de configurar y usar. Proporciona los mismos resultados que un analizador de red por una fracción del precio.

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WavePulser 40iX Los estándares de calibración están integrados, por lo que la calibración siempre es automática, simple y rápida. Compare con un analizador de red vectorial que requiere la compra de estándares de calibración externos adicionales y requiere conexión manual para la calibración. El enfoque basado en TDR/TDT también es independiente de la configuración, lo que hace que la calibración sea menos frecuente.

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WavePulser 40iX ofrece respuesta de paso de reflectómetro de dominio de tiempo (TDR) y respuestas de capa física dependientes del tiempo y/o emuladas sin necesidad de extrapolación a CC y bajas frecuencias, ideal para análisis de interconexión de datos en serie de alta velocidad.

Una adquisición muestra todos los resultados de la medición: retorno de modo mixto y pérdidas de inserción para todos los puertos; mediciones en modo diferencial y modo común; Respuesta de frecuencia de CC. Una interfaz de usuario gráfica tabular facilita la lectura de los resultados.

Una configuración simple requiere que ingrese solo las frecuencias y la cantidad de puertos para una adquisición de un solo extremo. Elija un tiempo de prueba optimizado para precisión o velocidad o algo intermedio. Reconfigure los puertos en el software sin volver a conectarse al dispositivo bajo prueba. Reordene los parámetros S en el archivo Touchstone.

La calibración electrónica interna permite que las mediciones comiencen antes y se realicen con más confianza. Capacidades como la pasividad, la reciprocidad y el cumplimiento de la causalidad garantizan una mayor precisión en la medición de los parámetros S.

Elimina los efectos de los dispositivos de prueba, cables y conectores según la norma IEEE 370-2020 y mejora la precisión de la medición. Admite los métodos 2x-Thru, 1x-Reflect-Short, 1x-Reflect-Open y la desincrustación in situ (ISD) mediante el desprendimiento de impedancia basado en TDR o la extensión de puerto. Utiliza los parámetros S resultantes en las herramientas de diagrama de ojo y análisis de fluctuación (jitter). (Algunas funciones son opcionales).

Importe o simule formas de onda y utilice parámetros S para modelar las degradaciones. Vea rápidamente el impacto de las deficiencias con un diagrama de ojo de datos en serie intuitivo. Vea los efectos de la desincrustación y la ecualización en el diagrama de ojo. Admite PLL, preénfasis, desacentuación, CTLE, FFE y DFE.

Mida el jitter total (Tj), aleatorio (Rj) y determinista (Dj). De-convolucionar Dj en partes componentes. Vea el jitter en espectral, histograma, seguimiento de jitter, diagrama de ojo y otros gráficos.